名稱：安捷倫5530 激光干涉測量系統

描述：Agilent 5530 動態校準器提供現有的最高精度，用于測量、校準和驗證精密的機床和坐標測量機（CMM）設備。

主要特性與技術指標 

主要特性：

1． 系統組成

激光頭、激光頭電纜、遙控器（包括鏡組和硬件）、USB雷射量測模組、USB感測器集線器、空氣傳感器、材料傳感器、傳感器電纜、激光頭裝運箱、三腳架、三腳架的裝運箱等

2.  總體精度: 0.4ppm

比市場上其他供應商 20%

3.  傳感器精度：

材料溫度： +/- 0.1°C 

空氣溫度： +/- 0.1°C 

空氣濕度： +/- 5% 相對濕度 

空氣壓力： +/- 50 pa 

4.  系統功能

測量機床的定位精度

提供補充數值以修正機械誤差

協助診斷幾何問題

以八種國際標準分析機械的性能

提供機床性能校準

5.  主要好處

提供最高的準確性

溯源到NIST的測量工具

便攜設計

無與倫比的使用壽命可靠性

技術指標：

1. 功率要求

激光頭:

100-240Vac,50/60Hz

50W(預熱中)，33W（預熱后）

電壓和電流（經由USB提供，+5V電源）

E1735A 最大280 mA（加上55290B）

E1736A 最大120 mA（加上傳感器）

E1737A 最大6 mA，通常0.3mA

E1738A 最大6mA，通常0.6mA

55290B 最大250 mA

2. 系統要求

環境

操作溫度：0-40度

為滿足精確度要求光學組件溫度必須穩定在+/-2度

3. 電腦要求

裝有Windows XP或Vista系統，兩個USB插口，光驅

· 空氣溫度： +/- 0.1°C 

· 空氣濕度： +/- 5% 相對濕度