LET-2000D系列是力鈦科公司開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導(dǎo)體的測試，LET-2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬和測試精度，可以有效準(zhǔn)確的測量出實際的器件參數(shù)

系統(tǒng)參數(shù)：
●  測量電壓：標(biāo)配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
●  測量電流：標(biāo)配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
●  短路電流：2000A
●  測量參數(shù)：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  測量項目： 開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù)參數(shù)、安全工作區(qū)等
●  測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系統(tǒng)帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
●  測量通道：4CH
●  雙脈沖脈寬：最小20ns，最大150us。
●  雙脈沖數(shù)：單脈沖、2-30脈沖
●  測量依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173